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品牌 | APKJ/愛佩科技 | 價格區間 | 10萬-20萬 |
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 能源,建材,電子,印刷包裝 |
一▩╃、晶片冷熱衝擊測試箱產品名稱三箱式冷熱衝擊試驗機(風冷式)
二▩╃、產品型號3AP-CJ-80A
三▩╃、控制儀表愛佩自主研發的7英寸超大觸控AP-950可程式溫度控制器全觸控式螢幕控制器↟↟,觸控式螢幕輸入↟↟,根據客戶要求可任意設定不同高低溫衝擊溫度點↟↟,滿足做測試的不同需求.
四▩╃、裝置用途廣泛用於電子電器零元件塑膠等行業▩╃、自動化零部件▩╃、通訊元件▩╃、汽車配件▩╃、金屬▩╃、化學材料▩╃、塑膠等行業↟↟,國防工業▩╃、航天▩╃、兵工業▩╃、BGA▩╃、PCB基扳▩╃、電子晶片IC▩╃、半導體陶磁及高分子材料之物理性變化進行試驗,用來測試材料結構或複合材料↟↟,在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度↟↟,藉以在最短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理變化▩••◕▩。
五▩╃、三箱特點1▩╃、三箱裝置區分為高溫區▩╃、低溫區▩╃、測試區三部分↟↟,測試樣品完全靜止於測試區▩••◕▩。採用*之蓄熱▩╃、蓄冷結構↟↟,強制冷熱風路切換方式匯入測試區↟↟,衝擊時高溫區或低溫區的溫度衝入測試區進行衝擊,完成冷熱溫度衝擊測試▩••◕▩。
2▩╃、可獨立設定高溫▩╃、低溫及冷熱衝擊三種不同條件之功能↟↟,執行冷熱衝擊條件時↟↟,可選擇2箱或3箱之功能並具有高低溫試驗機的功能,相比於2箱衝擊它還可選擇做常溫衝擊▩••◕▩。
六▩╃、容積▩╃、尺寸和重量
6.1.內容積80L
6.2.內箱尺寸400*500*400mm (W* H *D)
6.3.外型尺寸(約)1550*1850*1600mm (W* H *D)
6.4.重 量約900㎏
七▩╃、晶片冷熱衝擊測試箱效能指標
7.1.測試環境條件機器周圍環境溫度維持在+25~+30℃之間↟↟,相對溼度₪✘:≤85%;氣壓₪✘:86kPa~106kPa正常大氣壓力▩••◕▩。
7.2.滿足標準 .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-2008 高溫試驗方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge
·GJB150.5-86溫度衝擊試驗Test of temperature shock
·GJB360.7-87溫度衝擊試驗Test of temperature shock
·GJB367.2-87溫度衝擊試驗Test of temperature shock
·QC/T17-92▩╃、EIA364-32▩╃、IEC68-2-14等
7.3.測試室溫度範圍-40℃~+150 ℃ (風冷式)
7.3.1.低溫衝擊範圍-10℃~-40 ℃
7.3.2.高溫衝擊範圍60℃~150 ℃
7.4.高溫室
7.4.1.預熱溫度範圍RT~+165℃
7.4.2.升溫時間
+50℃→+165 ≤30min
注₪✘:升溫時間為高溫室單獨運轉時的效能
7.5.低溫室
7.5.1.預冷溫度範圍RT~-55℃
7.5.2.降溫時間+20℃ → -55℃≤約60min
注₪✘:降溫時間為低溫室單獨運轉時的效能
7.6.試驗室(試樣區)
7.6.1.試驗方式採用*之蓄熱▩╃、蓄冷結構↟↟,強制冷熱風路切換方式匯入測試區↟↟,衝擊時高溫區或低溫區的溫度衝入測試區進行衝擊,完成冷熱溫度衝擊測試▩••◕▩。
7.6.2.溫度波動度±0.5℃
7.6.3.溫度偏差±2.0℃
7.6.5.溫度恢復時間3~5min;轉換溫度只需要≤10s(風門開啟時間₪✘:5秒以內)
7.7.衝擊暴露時間≥30min
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